利用原子力显微镜探测化学基团间的单键力

http://www.microimage.com.cnwbf_512(2010-11-08 17:24:27)

摘 要:原子力显微镜(AFM)不仅可用于形貌测量,而且还可在纳米尺度上测量微观组分间的相互作用力。本文简要介绍了AFM的一种令人非常感兴趣的用途——测量和推算单个化学基团对之间的作用力(单键力)。单键力的测量和推算涉及AFM针尖的自组装单分子膜的化学修饰和Poisson统计方法的利用,文中概述了测量和推算的步骤和原理。AFM应用范围的拓宽必将促进它的进一步改进和发展。

[附件:/利用原子力显微镜探测化学基团间的单键力.pdf]

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