FEI发布三个新的透射电子显微镜系统:Metrios,Talos,Titan Themis(Microimage译)

http://www.microimage.com.cntina(2013-08-09 15:38:49)

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FEI发布三个新的透射电子显微镜系统:MetriosTalosTitan Themis :新的TEM系统延续了FEI在技术、效率和效果特定应用工作流上要求的重点。

FEI推出三个新的透射电子显微镜系统,可定制性能以满足特定应用和工业的需要。新的系统能为半导体制造和科研提供更有效、高效的工作流。包括新的Metrios TEM,为目前的半导体制造计量而设计;Talos TEM为材料科学、生命科学提供高速成像;Titan Themis TEM能够增强对材料原子级的测量。

Metrios系统是第一个致力于快速、精确测量的TEM,半导体制造需要这种TEM开发和控制他们的晶体制造过程。对TEM操作和检测过程的普遍自动化简化了对特定操作者培训的要求,这些先进的自动化计量器能比手动得到更精确的数据. Metrios TEM专为用户提供完善的吞吐量和比其他TEM更低的成本而设计。

Talos TEM (上图) 结合了高分辨率、高通量TEM成像,及快速、精确和定量能量色散X射线功能,以提供先进的分析功能。新的TEM配备了FEI最亮的电子电源和最新的EDX检测技术,加上FEI3D EDS谱成像,为低浓度和光元素提供高效的检测。Talos的平台是完全数字化的,可以远距离操作,还能够为特定应用加装额外的检测器或样品夹。有着更高的自动化和容易使用等特点,Talos特别适合个人调查以及多个用户的实验室环境。

Titan Themis TEM为像差矫正、原子级成像和分析而推出,研究者用高分辨率像差矫正的TEM区理解大尺度物理材料和原子尺度成分和结构间的关系。Titan Themis平台能直接测量性能,如纳米尺度的磁铁场,甚至原子尺度的电子场。完整的TEM自动化工作流程,从样品导航、排列到精细数据的采集,增强结果的重复性和再现性,在更少的时间和精力下确保更有信心的数据。

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