AFM 采集到首幅化学键图(Microimage译)

http://www.microimage.com.cntina(2012-10-16 17:45:11)

(以下内容由中国显微图像网译制,转载请注明!) IupBmp=Ru `!, {

 

IBM研究者使用非接触式原子力显微镜第一次为单个分子的化学键成像,检测不同键长的微妙差异。

 

Hexabenzocoronene中的不同化学键,采用非接触式原子力显微镜 ,用的是一氧化碳功能化探针。

这个结果可以帮助研究者为太阳能开发新的有机材料和研究石墨半导体中的缺陷。

正如Science中报道的,来自IBMLeo GrossAs博士及其同事使用终端带一氧化碳探针的AFMC60- 一个fullerene分子的键级成像,他们还可以看见大的多环芳香烃,这类似于石墨的小鳞片。

通过振荡针尖,研究小组可以分辨样本上某些3.3-3.7埃的物质,可以辨别仅仅3pm的单个键,大概相当于原子直径的1/100。正如Gross的解释,键级与键的亮度相关,这是测量键与探针针尖之间的力,也就是AFM图像中透明的键长。

 

Leo Gross, 科学家,IBM研究者,正在用原子力显微镜观察。

利用最小的针尖高度3.3埃,不同长度的键级可以分开了,” Gross接着说: 稍大点高度,约3.7埃可以进行键级的对比。每种情况下,对比都是根据Pauli排斥力。.”

研究者还发现利用AFM的一氧化碳分子针尖放大了多环芳香烃键级的不同,也因此,键长小于0.03埃可以被检测。

 我们现在想试试非一氧化碳分子的探针终端,” Gross说,我们还可以用这个技术表征石墨中的缺陷。

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