柏林研究院利用JPK的AFM研究石墨和DNA的相互作用(Microimage译)

http://www.microimage.com.cntina(2012-02-16 17:22:51)

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JPK
报道了柏林Humboldt大学如何利用AFM研究石墨,以更好的描述他们的特性

JPK仪器,世界领先的生命科学及软物质领域纳米仪器制造商,在纳米快报上报道了Nikolai Severin和他的同事利用JPKNanoWizard II Ultra系统增进了对石墨属性的理解。

物理大分子教授Jürgen P. Rabe的中心研究目标是探索分子系统在机械、电子、光学和生化特性上从分子到宏观长度以及时间尺度的相关结构和分子动态。对于理解机械特性的结构信息和测量,单分子和超分子利用SFM操作和成像是非常重要的。他领导的小组还参与了分子电子学和有机电子学特性的理解和开发。

这个小组中,纳米快报的主要作者Nikolai Severin展示了AFM在石墨研究中的应用。石墨的电子特性敏感的依赖于它们的变形,因此可以展望应变工程下的石墨电子。为了原位变形石墨,该小组机械的剥离单个或少量石墨放到覆盖有双链环状质粒DNA的原子级云母表面上。利用扫描力显微镜的接触和间歇式接触模式,他们发现石墨高精度的复制了DNA的拓扑型。

Dr Severin发现石墨保护DNA分子不受扫描力显微镜下接触模式施加的剪切力。另外,石墨还扮演保护层以抗击外界环境,如抗氧化,因为它不漏气体。考虑到石墨的高导电性和极端小的厚度,这为扫描探针显微镜和光度计提供新的隧道或喇嘛光谱仪用于原位分仔细变形的石墨和重组的分子。

总之,Dr Severin说:"我们成功的证实石墨的拓扑学可以精确地控制到分子层面,尤其石墨是如此的灵活,以至于我们能否复制单分子的拓扑学,沉积在这些分子上。"

他还提到为什么选择JPK NanoWizard II做这项工作的原因:"我们可以对大尺寸的样品和大到30mm的扫描区域成像。对我们来说,扫描器非常重要,能精确检测DNA的高度和他们的横截面。这个系统有点热漂移,这一点在做小尺度测量时非常重要。我发现软件很好用。"

 

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