JEOL发布高通量自动JEM-2800 TEM用于纳米分析(Microimage译)

http://www.microimage.com.cntina(2011-08-17 10:18:43)

(以下内容由中国显微图像网译制,转载请注明!)

 

JEOL推出新的高通量,自动化Nanoanalysis透射电镜

 

 JEOL推出一个新的200kV的透射电镜,可用于大规模半导体和材料样品的工艺和质量控制中的高通量纳米分析。多功能JEM-2800TEMSTEMSE模式下都能高分辨率成像;超敏感大角度能谱(EDS)元素映射,化学分析的电子能量损失谱(EELS),临界尺寸分析,断层,原位观察样品。所有的TEM功能并不使用传统的荧光屏展示在电子柱上。

JEM-2800的速度很快,全自动化调整焦面、象散、对比度、亮度、晶带轴对齐,和高度。分析模式之间切换是无缝的,快速的数据缩短了样品间的转换时间。操作导航系统和屏幕上的操作指南使得JEM – 2800是一个任何技术水平的用户的高吞吐量、有好的TEM

另外,JEM-2800的关键配置中包括一个肖特场发射电子枪、高稳定的eucentric侧入测角台、STEM模式下的100X-150000000X放大范围、0.1 nm TEM的分辨率和0.20nm BF/DF STEM的分辨率。

JEM-2800JEOL的最新100-300 kV TEM和最近的ARM200F原子分辨率TEM的补充。美国第一家用户,一个全球半导体制造商,将会收到全新的配有角度EDSJEM-2800

 

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http://www.jeolusa.com/PRODUCTS/ElectronOptics

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