Nikon共聚焦及最新技术交流会顺利召开

http://www.microimage.com.cnNancy(2010-05-12 11:01:40)

  2010年5月11日,Nikon仪器(上海)有限公司在北京大学生命科学学院新楼邓佑才学术报告厅召开了Nikon共聚焦及最新技术交流会。会上由来自东京大学的西村智博士进行了主题演讲,并由Nikon介绍了Nikon A1RMP共聚焦显微镜以及N-SIM,N-STORM两款超高分辨率显微镜。
 
多光子技术

 

超高分辨率

 

A1RMP多光谱显微镜

  N-SIM以及N-STROM两款显微镜分别采用结构照明(Structured Illuminated Microscopy)以及随机光重建技术(Stochastic Reconstruction Microscopy)实现了光学分辨率极限的突破。N-SIM将光学分辨率提到到100nm,N-STROM术将光学分辨率提高到20nm。

  A1RMP是Nikon最新推出的多光子共聚焦显微镜。产品中整合了先进的共振扫描头,光谱拆分等技术,可实现高速成像及高分别辨率,高精度成像。

   会后,Nikon在生命科学楼展示了A1光谱型共聚焦的操作展示,为与会师生详细直观的展示了高精度成像对比传统成像的优势以及效果,令参会者受益匪浅。此次技术交流会操作演示部分将于2010年05月12日结束。

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