JEOL JEM-ARM200F电子显微镜首次产生亚原子级数据(Microimage 译)

http://www.microimage.com.cnTina(2010-04-12 17:40:59)

(以下内容由中国显微图像网译制,转载请注明!)

第一个原子分辨率JEOL JEM-ARM200F 透射电镜在1月份到达德克萨斯大学,并于2月初开始使用出图。

美国JEOL 透射电镜部门的董事Thomas Isabell博士说:三周内产生HAADF图像显示出这个新设备的稳定性和UTSA-JEOL团队的高超技术。

著名电子显微镜和纳米技术研究者,UTSA物理学和天文学主席Miguel Yacaman博士检验了新ARM200F的表现、服务和应用。

Yacaman说:在新的发现上,这款新显微镜的潜力是巨大的。听得出,他非常欣赏JEOL ARM200F的亚原子研究能力。

ARM200F代表了JEOL在透射电镜方面60年的经验,这个设计把色差校正融入超屏蔽电子柱,以保护超高压光学不受环境干扰。

“ARM200F的首次安装展示了JEOL的稳定性以及超高的品质,并显示出了我们的服务和应用团队是胜任的!”Isabell

JEM-ARM200F确保包括EDS (energy-dispersive x-ray spectroscopy) and EELS (electron energy-loss spectroscopy)在内的材料学中原子间成像和无与伦比的空间分辨率。

关于JEOL Ltd.

JEOL是世界顶级的电子光学设备制造商,为高端科研和工业研究提供设备。核心产品为扫描电镜和透射电镜。同时为半导体行业提供设备。

更多产品请点击: www.jeol.com, 或电话+81-42-543-1111.

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